Zeitschrift für Physikalische Chemie und Biophysik
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Abstrakt

AFM/TEM Komplementäre Strukturanalyse von oberflächenfunktionalisierten Nanopartikeln

Ruozi B, Belletti D, Vandelli MA, F Pederzoli, P Veratti, F Forni, G Tosi, Tonelli M und Zapparoli M

Im Bereich der Nanomedizin ist die Charakterisierung funktionalisierter Arzneimittelträgersysteme, die als wirksame und selektive Therapeutika auf den Markt gebracht wurden, ein zentraler Aspekt von großer Bedeutung. Insbesondere die Morphologie polymerer Nanopartikel, der am häufigsten untersuchten Nanoträger, wird häufig mithilfe der Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) beurteilt. Trotz der hohen Auflösung und Vielseitigkeit der TEM wird diese Technologie häufig durch das komplizierte Verfahren zur Probenvorbereitung und die operativen Analysebedingungen beeinträchtigt. Betrachtet man die Rasterkraftmikroskopie, stellt die Rasterkraftmikroskopie (AFM) ein außergewöhnliches Werkzeug für die detaillierte Charakterisierung von Strukturen im Submikrometerbereich als Oberflächenfunktionalisierung auf atomarer Ebene dar. In diesem Artikel diskutieren wir die Vorteile und Grenzen dieser Mikroskopie bei der Charakterisierung von PLGA-Nanopartikeln, die mit drei verschiedenen Arten von Liganden (Kohlenhydratliganden, Antikörper und Quantenpunktkristalle) funktionalisiert sind, die absichtlich mit spezifischen physikochemischen Eigenschaften entworfen, hergestellt und maßgeschneidert wurden, um den Anforderungen spezifischer Anwendungen (Zielbestimmung oder Bildgebung) gerecht zu werden.